Đăng ký Đăng nhập
Trang chủ Giáo dục - Đào tạo Cao đẳng - Đại học Luận án nghiên cứu các tham số nhiệt động và các cumulant của một số vật liệu tr...

Tài liệu Luận án nghiên cứu các tham số nhiệt động và các cumulant của một số vật liệu trong phương pháp xafs phi điều hòa

.PDF
132
158
144

Mô tả:

iv  MỤC LỤC LỜI CAM ĐOAN ...................................................................................................i LỜI CẢM ƠN ........................................................................................................ii DANH MỤC CÁC TỪ VIẾT TẮT .....................................................................vii DANH MỤC KÝ HIỆU CÁC ĐẠI LƯỢNG VẬT LÝ .....................................viii DANH MỤC CÁC BẢNG BIỂU ......................................................................... ix MỞ ĐẦU ................................................................................................................ 1 CHƯƠNG 1. TỔNG QUAN VỀ HỆ SỐ DEBYE-WALLER PHỔ XAFS ......... 7 1.1 Sơ lược về phổ XAFS ....................................................................................... 7 1.1.1. Bản chất vật lý của phổ XAFS[30]: .................................................................. 9 1.1.2. Phương trình phổ XAFS .............................................................................. 11 1.1.3. Hệ số Debye-Waller của phổ XAFS ............................................................. 15 1.1.4. Các cumulant của phổ XAFS ....................................................................... 17 1.2. Phương pháp nghiên cứu hệ số Debye-Waller phổ XAFS .......................... 19 1.2.1. Mô hình Einstein tương quan ....................................................................... 19 1.2.2. Phương pháp phương trình chuyển động ...................................................... 21 1.2.3. Phương pháp thống kê mô men .................................................................... 25 CHƯƠNG 2. MÔ HÌNH EINSTEIN TƯƠNG QUAN PHI ĐIỀU HÒA TRONG NGHIÊN CỨU CÁC THAM SỐ NHIỆT ĐỘNG PHỔ XAFS........... 33 2.1. Thế tương tác hiệu dụng trong mô hình Einstein tương quan phi điều hòa...... 33 2.2. Thế tương tác cặp Morse .............................................................................. 37 2.2.1. Áp dụng hàm thế Morse để tính toán các tham số và thế hiệu dụng trong mô  hình Einstein tương quan phi điều hòa với vật liệu cấu trúc fcc, hcp ...................... 41 2.2.2. Áp dụng hàm thế Morse để tính toán các tham số và thế hiệu dụng trong mô  hình Einstein tương quan phi điều hòa với vật liệu cấu trúc kim cương ................. 45 2.3. Thế tương tác Stillinger-Weber ................................................................... 47 2.4. Tính toán các tham số nhiệt động phổ XAFS theo mô hình Einstein tương quan phi điều hòa ................................................................................................ 49 2.4.1. Tính các cumulant trong mô hình Einstein tương quan phi điều hòa ............ 49 v  2.4.2.  Dẫn  giải  các  cumulant  thông  qua  cumulant  bậc  2  trong  mô  hình  Einstein  tương quan phi điều hòa ........................................................................................ 58 2.4.3. Tính hệ số giãn nở nhiệt của vật liệu trong mô hình Einstein tương quan phi  điều hòa ................................................................................................................. 60 2.4.4. Đánh giá kết quả tính cumulant bậc 2 của phổ XAFS sử dụng thế Morse và  thế  Stilinger-Weber  trong  mô  hình  Einstein  tương  quan  phi  điều  hòa  và  phương  pháp mô men với các kết quả khác đối với vật liệu bán dẫn cấu trúc kim cương .... 62 2.5. Các hiệu ứng lượng tử ở giới hạn nhiệt độ thấp và gần đúng cổ điển ở nhiệt độ cao ................................................................................................................... 65 CHƯƠNG 3. HỆ ĐO THỰC NGHIỆM VÀ ÁP DỤNG MÔ HÌNH EINSTEIN TƯƠNG QUAN PHI ĐIỀU HÒA TRONG NGHIÊN CỨU CÁC THAM SỐ NHIỆT ĐỘNG PHỔ XAFS VẬT LIỆU CẤU TRÚC HCP VÀ FCC ............... 67 3.1. Hệ thống bức xạ synchrotron và hệ đo phổ XAFS ...................................... 67 3.1.1. Khái quát chung về hệ đo phổ XAFS ........................................................... 68 3.1.2. Quá trình chuẩn bị mẫu đo thực nghiệm phổ XAFS phụ thuộc nhiệt độ ....... 72 3.2. Chương trình xử lý phổ cấu trúc tinh tế hấp thụ tia X (XAFS) ................. 74 3.3. Kết quả thực nghiệm xác định hệ số Debye-Waller phổ XAFS của vật liệu cấu trúc hcp ......................................................................................................... 76 3.4. Xác định các tham số nhiệt động phổ XAFS từ số liệu thực nghiệm hệ số Debye-Waller hay cumulant bậc hai theo mô hình Einstein tương quan phi điều hòa vật liệu cấu trúc hcp ............................................................................. 78 3.5. Kết quả thực nghiệm xác định hệ số Debye-Waller phổ XAFS của vật liệu cấu trúc fcc........................................................................................................... 80 3.6. Xác định các tham số nhiệt động phổ XAFS từ số liệu thực nghiệm hệ số Debye-Waller hay cumulant bậc hai theo mô hình Einstein tương quan phi điều hòa của vật liệu cấu trúc fcc (Cu) ............................................................... 82 CHƯƠNG 4. MÔ HÌNH EINSTEIN TƯƠNG QUAN PHI ĐIỀU HÒA TRONG NGHIÊN CỨU THÀNH PHẦN PHA VÀ BIÊN ĐỘ PHỔ XAFS VẬT LIỆU CẤU TRÚC HCP VÀ FCC....................................................................... 85 4.1. Khái quát về phổ XAFS phi điều hòa .......................................................... 85 4.2. Hệ số Debye-Waller phổ XAFS với đóng góp phi điều hòa ........................ 86 4.2.1. Xác định hệ số Grüneisen   G  ....................................................................... 86 vi  4.2.2. Xác định hệ số phi điều hòa  (T)  ................................................................. 88 4.3. Phổ XAFS với đóng góp phi điều hòa .......................................................... 89 4.4. Thành phần phi điều hòa của pha và biên độ phổ XAFS vật liệu cấu trúc hcp (Zn) ................................................................................................................ 90 4.5. Thành phần phi điều hòa của pha và biên độ phổ XAFS vật liệu cấu trúc fcc (Cu) ................................................................................................................. 92 4.5.1.Thành phần phi điều hòa của cumulant bậc 2 và hệ số phi điều hòa   (T)  ..... 92 4.5.2.Thành phần phi điều hòa của pha và biên độ phổ XAFS ............................... 93 KẾT LUẬN VÀ KIẾN NGHỊ ............................................................................. 96 DANH MỤC CÁC CÔNG TRÌNH CÔNG BỐ CỦA TÁC GIẢ ....................... 97 TÀI LIỆU THAM KHẢO ................................................................................... 98 PHỤ LỤC ........................................................................................................... 109   vii  DANH MỤC CÁC TỪ VIẾT TẮT Từ viết tắt Tiếng Anh Tiếng Việt ACEM  Anharmonic Correlated Einstein  Mô  hình  Einstein  tương  quan  phi  Model  điều hòa  DCF  Displacement Correlation  Function  Hàm dịch chuyển tương quan  DFP  Density Function Theory  Lý thuyết hàm mật độ  EM  Equation of Motion  Phương trình chuyển động  EXAFS  Extended- XAFS  Cấu trúc tinh tế hấp thụ tia X vùng  mở rộng.  FCC  Face-Centered Cubic  Lập phương tâm mặt  FEFF  Force Effective  Tên phần mềm xử lý phổ (viết tắt  của Lực hiệu dụng)  GGA  Generalized Gradient  Appoximation  Gần đúng gradien mở rộng  HCP  Hexagonal Close Packed  Lục giác xếp chặt  h-GGA  Hybrid GGA  Phương pháp GGA lai  LDA  Local Density Approximation  Gần đúng mật độ địa phương  MSRD  Mean Square Relative  Displacement  Độ dịch chuyển tương đối bình  phương trung bình  PES  Photo-Electron Spectroscopy  Phổ quang điện tử  SLRI  Synchrotron Light Research  Instite  Viện Nghiên cứu bức xạ synchrotron  (Thái Lan)  TM  Transmission Mode  Chế độ truyền qua  VDOS  Vibrational Density of state  Mật độ trạng thái dao động  XAFS  X-ray Absorption Fine Structure  Cấu trúc tinh tế hấp thụ tia X  XANES  X ray Absorption Near - Edge  Structure  Cấu trúc gần cận hấp thụ tia X   XRF  X ray Fluorescence  Huỳnh quang tia X    viii  DANH MỤC KÝ HIỆU CÁC ĐẠI LƯỢNG VẬT LÝ Ký hiệu Tiếng Anh Tiếng Việt a  Lattice Expansion Coefficient  Hệ số giãn nở mạng  µ  Effective Mass  Khối lượng hiệu dụng  Absorption Coefficient   Hệ số hấp thụ  E  Einstein Frequency  Tần số Einstein  D  Debye Frequency  Tần số Debye  E  Einstein Temperature  Nhiệt độ Einstein  R  Interatomic Distance  Khoảng cách liên kết nguyên tử  k3  Anharmonic Coefficients  Hệ số phi điều hòa  keff  Effective Elastic Coefficients  Hệ số đàn hồi hiệu dụng  eff  Effective Potential  Thế tương tác hiệu dụng   (1)  First-order cumulant  Cumulant bậc 1  (2) Second-order cumulant Cumulant bậc 2 (3) Third-order cumulant Cumulant bậc 3  H2   Harmonic Second cumulant  Cumulant bậc 2 điều hòa   A2   Anharmonic Second cumulant  Cumulant bậc 2 phi điều hòa  T  Coefficient of Thermal Expansion  Hệ số giãn nở nhiệt  µ(E)  , D  Parameters of the Morse Potential  Các tham số thế Morse  ix  DANH MỤC CÁC BẢNG BIỂU   Bảng 2. 1. Các tham số thế Morse của đồng (Cu) từ các nguồn tài liệu[56] ............. 38 Bảng 2. 2. Các tham số thế Morse của đồng (Cu) và kẽm (Zn) tính toán lý thuyết. 41 Bảng 2. 4: Các tham số nhiệt động trong giới hạn nhiệt độ.................................... 66 ---------------------------------*****-------------------------------  Bảng 3. 1. Giá trị  của các  cumulant  và  hệ số giãn  nở  nhiệt  của Zn  giữa  lý  thuyết  (LT) và thực nghiệm (TN) tại các nhiệt độ. Ký hiệu: MHĐH- Mô hình điều hòa. .. 77 Bảng 3. 2. Giá trị của các cumulant và tham số phi điều hòa của Cu giữa lý thuyết  (LT) và thực nghiệm (TN) tại các nhiệt độ. ............................................................ 81     x  DANH MỤC CÁC HÌNH VẼ-ĐỒ THỊ   Hình 1.1: Giản đồ quá trình hấp thụ tia X bởi điện tử lỗ trống và quá trình hủy hấp  thụ tia X bởi tạo lỗ trống lớp lõi nguyên tử. ............................................................. 8 Hình 1.2: Phổ XAFS tại cận hấp thụ K ở các nhiệt độ khác nhau của phoi Cu. ....... 8 Hình 1.3: Sự hấp thụ tia X của vật liệu. .................................................................. 9 Hình 1.4: Giản đồ mô tả hấp thụ tia X thông qua hiệu ứng quang điện. ................... 9 Hình 1.5: Giản đồ mô tả cấu trúc tinh tế hấp thụ tia X. ......................................... 10 Hình 1.6: Độ dịch chuyển bình phương trung bình và hệ số Debye-Waller đối với  lớp thứ nhất của Cu phụ thuộc nhiệt độ từ các mô hình tính toán khác nhau .......... 20 Hình 1.7: Sự phụ thuộc nhiệt độ của hệ số Debye-Waller với các phương pháp tính  toán và các mô hình khác nhau .............................................................................. 21 ---------------------------------*****-------------------------------  Hình 2.1: Dao động tử điều hòa[47]. ....................................................................... 33 Hình 2.2: Hàm thế tương tác đơn cặp của Cu[47]. ................................................... 34 Hình 2.3: Tinh thể cấu trúc lập phương tâm mặt fcc[47] ......................................... 41 Hình 2.4: Tinh thể cấu trúc lục giác xếp chặt hcp[47]. ............................................ 44 Hình 2.5: Tinh thể cấu trúc kim cương[47]. ............................................................ 45 Hình 2. 6: Sự phụ thuộc nhiệt độ của cumulant bậc 2 sử dụng thế Stillinger-Weber  theo phương pháp thống kê mô men đối với Si. ..................................................... 64 Hình 2. 7:  Sự phụ thuộc nhiệt độ của cumulant bậc 2 sử dụng thế Stillinger-Weber  theo phương pháp thống kê mô men đối với Ge. .................................................... 64 ---------------------------------*****-------------------------------  Hình 3.1: Mô hình một hệ synchrotron hiện đại [75]. .............................................. 68 Hình 3.2: Cấu hình một đầu ra đo phổ hấp thụ tia X hiện đại[75]. ........................... 69 Hình 3.3: Các hệ synchrotron trên thế giới. ........................................................... 70 xi  Hình 3.4: Hệ synchrotron Thái lan (SLRI)[76]. ....................................................... 70 Hình 3.5: Hệ thí nghiệm đầu ra số 8. Viện SLRI. .................................................. 71 Hình 3.6: Sơ đồ hệ thống đầu ra số 8. Viện nghiên cứu bức xạ synchrotron [76,77].. 71 Hình 3.7: Hệ thí nghiệm đo phổ XAFS phụ thuộc nhiệt độ. .................................. 72 Hình 3.8: (A) Mẫu chuẩn phoi Cu (7.5 µm); (B) Mẫu phoi Cu (2 µm) .................. 72 Hình 3.9: Sơ đồ chương trình gia nhiệt. ................................................................ 73 Hình 3.10: Cấu trúc của phần mềm xử lý và phân tích phổ tia X.[79,80]. ................. 74 Hình 3.11: Cấu trúc của chương trình FEFF code[3] .............................................. 75 Hình 3.12: Phổ XAFS và phổ Fourier của Zn tại 300 K, 400 K, 500 K và 600 K .. 76 Hình 3.13: Quá trình làm khớp các phổ XAFS của Zn tại các nhiệt độ. ................ 77 Hình 3.14: Sự phụ thuộc nhiệt độ của cumulant bậc nhất, cumulant bậc 2 và giá trị  cumulant thu được từ thực nghiệm. ....................................................................... 78 Hình 3.15: Sự phụ thuộc nhiệt độ của cumulant bậc 3 và hệ số giãn nở nhiệt của Zn  tính toán từ cumulant thu được từ thực nghiệm. ..................................................... 79 Hình 3.16: Sự phụ thuộc nhiệt độ của tỷ số các cumulant, tỷ số giữa hệ số giãn nở  nhiệt và các cumulant của Zn. ................................................................................ 79 Hình 3.17: Phổ XAFS và phổ Fourier của Cu tại 300K, 400K, 500K .................... 80 Hình 3.18: Quá trình làm khớp các phổ XAFS của Cu tại các nhiệt độ. ................ 81 Hình 3.19: Sự phụ thuộc nhiệt độ của cumulant bậc nhất, cumulant bậc 2 và giá trị  cumulant thu được từ thực nghiệm. ....................................................................... 82 Hình 3.20: Sự phụ thuộc nhiệt độ của cumulant bậc 3 và hệ số giãn nở nhiệt của Cu  tính toán từ cumulant thu được từ thực nghiệm. ..................................................... 83 Hình 3.21: Sự phụ thuộc nhiệt độ của tỷ số các cumulant, tỷ số giữa hệ số giãn nở  nhiệt và các cumulant của Cu. ............................................................................... 83 ---------------------------------*****-------------------------------  Hình 4.1: Sự phụ thuộc của thành phần biên độ và pha phi điều hòa với số sóng k  của phổ XAFS đối với vật liệu cấu trúc hcp (Zn) tại các nhiệt độ. ......................... 90 xii  Hình 4.2: Phổ XAFS lý thuyết và thực nghiệm với vật liệu cấu trúc hcp (Zn) tại các  nhiệt độ. ................................................................................................................ 91 Hình 4.3: So sánh độ lớn ảnh Fourier của phổ XAFS lý thuyết và thực nghiệm với  vật liệu cấu trúc hcp (Zn) tại các nhiệt độ. ............................................................. 91 Hình 4.4: Sự phụ thuộc của thành phần phi điều hòa của cumulant bậc 2 và hệ số  phi điều hòa   (T) đối với vật liệu cấu trúc fcc (Cu) tại các nhiệt độ. ...................... 92 Hình 4.5: Sự phụ thuộc của thành phần biên độ và pha phi điều hòa với số sóng k  của phổ XAFS đối với vật liệu cấu trúc fcc (Cu) tại các nhiệt độ. .......................... 93 Hình 4.6: Phổ XAFS lý thuyết và thực nghiệm với vật liệu cấu trúc fcc (Cu) tại các  nhiệt độ. ................................................................................................................ 93 Hình 4.7: So sánh độ lớn ảnh Fourier của phổ XAFS lý thuyết và thực nghiệm với  vật liệu cấu trúc fcc (Cu) tại các nhiệt độ. .............................................................. 94   1  MỞ ĐẦU 1. Lý do lựa chọn đề tài Hiệu ứng dao động nhiệt là một trong những nguyên nhân gây ra sự mất trật  tự của các nguyên tử cũng như ảnh hưởng tới các đặc tính nhiệt động của vật liệu.  Hiện nay, có nhiều phương pháp và mô hình đang được sử dụng trong nghiên cứu  lý thuyết XAFS (X ray Absorption Fine Structure: Cấu trúc tinh tế của hấp thụ tia X) nhằm xác định chính xác khoảng cách trung bình giữa các nguyên tử lân cận và  một  số  tính  chất  nhiệt  động,  đặc  biệt  là  các  hiệu  ứng  phi  điều  hòa  (anharmonic effect)  của  các  vật  liệu.  Trong  phương  pháp  XAFS,  khoảng  cách  trung  bình  giữa  nguyên  tử được  xác  định  thông  qua  việc  chuyển  đổi Fourier  của  hàm  phổ  XAFS,  như vậy để xác định chính xác khoảng cách đó trước hết phải xác định được hàm  XAFS  một  cách  chính  xác.  Các  hàm  XAFS  phụ  thuộc  chủ  yếu  vào  các  tham  số  nhiệt  động,  trong  đó hệ  số  Debye-Waller  đóng vai  trò  hết sức  quan  trọng,  nó  đặc  trưng cho sự suy giảm biên độ phổ XAFS. Do vậy, các mô hình và các phương pháp  nghiên  cứu  đưa  ra  trong  lý  thuyết  XAFS  đều  tập  trung  chính  đến  việc  xác  định  chính  xác  hệ  số  Debye-Waller  phổ  XAFS[1-6].  Phần  lớn  các  mô  hình  và  phương  pháp nghiên cứu trên sử dụng lý thuyết lượng tử và các tính toán toán học tương đối  phức tạp. Đánh giá và phân loại các phương pháp cũng  như nhìn nhận về tính ưu  việt  của  từng  phương  pháp  đã  được  trình  bày  chi  tiết  trong  các  tài  liệu  trích  dẫn  riêng  hay  đã  được  đề  cập  trong  tài  liệu[7].  Mô  hình  Einstein  tương  quan  áp  dụng  trong lý thuyết XAFS được đề cập đầu tiên bởi E.Sevillano, JJ.Rehr và các cộng sự  [1]  năm 1979. Trong nghiên cứu này, các tác giả đã đánh giá và so sánh độ dịch bình  phương trung bình, cumulant bậc 2 và mối quan hệ giữa tần số Einstein và tần số  Debye đối với vật liệu cấu trúc fcc và bcc. Nghiên cứu này mới xem xét mô hình  Einstein tương quan trong điều kiện điều hòa mà chưa tính đến ảnh hưởng dao động  nhiệt của nguyên tử trong vật liệu. Phát triển tiếp theo của mô hình Einstein tương  quan được thực hiện bởi A.I. Frenkel và J.J Rehr[8], nghiên cứu tương đối bao quát  cho  mô  hình  Einstein  tương  quan.  Tuy  nhiên,  mô  hình  Einstein  tương  quan  trong  nghiên cứu này sử dụng thế đơn liên kết (single-bond model) do đó mới chỉ mô tả  tốt đối với các cặp nguyên tử đơn lẻ mà không áp dụng tốt đối với hệ nhiều nguyên    2  tử.  Bên cạnh  đó, các nghiên cứu của  Fujikawa  T.  and  Miyanaga  T[5] cũng  đã  dẫn  giải đến cumulant bậc 4 với cách tiếp cận của lý thuyết động học toàn mạng do đó  cần có những tính toán phức tạp. Tên gọi mô hình Einstein tương quan phi điều hòa  (Anharmonic Corellated Einstein Model: ACEM)  đầu  tiên  được  đưa  ra  bởi  GS.TSKH.  Nguyễn  Văn  Hùng  và  GS.J.J.  Rehr  trong  tài  liệu[9].  Trong  đó  đã  xây  dựng  thế  tương  tác  hiệu  dụng  (anharmonic effective potential)  với  sử  dụng  thế  Morse là thế tương tác đơn cặp nguyên tử. Với thế hiệu dụng này các tác giả HùngRehr không những khắc phục được hạn chế của thế đơn liên kết của Frenkel-Rehr  mà còn đơn giản hóa bài toán hệ nhiều hạt về bài toán hệ một chiều đơn giản với  đóng góp của các  hiệu ứng hệ nhiều hạt (many-body effect) qua  thu hút tương tác  với các nguyên tử lân cận. Các tác giả đã đưa ra các biểu thức tính toán cho hệ số  Debye-Waller biểu diễn dưới dạng khai triển cumulant (cumulant expansion), hệ số  giãn nở nhiệt và các cumulant tới bậc 3. Việc sử dụng thế Morse là cách tiếp cận ưu  việt trong mô hình Einstein tương quan trong nghiên cứu lý thuyết XAFS. Sử dụng  thế hiệu dụng Morse trong mô hình Einstein tương quan phi điều hòa giúp cho quá  trình tính toán các tham số nhiệt động của phổ XAFS trở nên đơn giản hơn so với  các phương pháp và các mô hình khác. Thế Morse có tính chất phi điều hòa nên rất  phù hợp cho nghiên cứu phổ XAFS trong dải nhiệt độ cao. Các nghiên cứu áp dụng  mô hình Einstein tương quan phi điều hòa đã được GS.TSKH. Nguyễn Văn Hùng  và các cộng sự tiếp tục nghiên cứu cho nhiều hệ vật liệu cấu trúc khác nhau như cấu  trúc fcc: (Ag)[10,21], (Cu)[10,16,21], (Pb)[11], (Al)[12]; cấu trúc bcc: (Fe)[10,14,21], (W)[13,14],  (Mo)[14]  ;  cấu  trúc  hcp:  (Zn)[15,17,20,22,23],  (Cd)[17,22,23];  cấu  trúc  kim  cương:  (Sn)[18],  (Si)[18,19,25],  (Ge)[19,24,25],  cũng  như  một  số  hợp  kim  hay  các  vật  liệu  pha  tạp  khác,…Các  nghiên  cứu  trên  tập  trung  chính  đến  nghiên  cứu  thế  tương  tác  hiệu  dụng, các cumulant cũng như các tham số nhiệt động khác của XAFS. Tuy nhiên,  các nghiên cứu vẫn chưa mang tính bao quát và toàn diện đối với phổ XAFS, trong  đó đặc biệt liên quan tới thành phần phi điều hòa của cumulant bậc 2 và phổ XAFS  bao gồm pha và biên độ cũng như ảnh Fourier của nó.     Tiếp nối các nghiên cứu trên, trong nghiên cứu này, nghiên cứu sinh tiếp tục  nghiên cứu phát triển mô hình Einstein tương quan phi điều hòa thành phương pháp  hoàn chỉnh, thuận tiện và bao quát đối với phổ XAFS. Vì vậy, nghiên cứu sinh lựa    3  chọn đề tài nghiên cứu là: “Nghiên cứu các tham số nhiệt động và các cumulant của một số vật liệu trong phương pháp XAFS phi điều hòa”. 2. Mục đích nghiên cứu của luận án - Xây dựng một phương pháp mà nó có thể đơn giản hóa việc tính các tham số  nhiệt động, phổ XAFS và ảnh Fourier của chúng chỉ thông qua một tham số  cơ bản là cumulant bậc 2. Điều đặc biệt là phương pháp trên có thể áp dụng  cho cả lý thuyết và thực nghiệm trong phương pháp XAFS.  - Áp dụng phương pháp đó để tính toán tính toán và đánh giá các tham số của  XAFS như: các cumulant, hệ số giãn nở nhiệt, phổ XAFS và ảnh Fourier của  nó,…  - Tiến hành các tính số và thí nghiệm đo đạc các đại lượng XAFS theo phương  pháp được xây dựng, so sánh các giá trị của chúng với nhau và các phương  pháp khác.  3. Đối tượng và phạm vi nghiên cứu Đối tượng của luận án: - Một số mô hình, phương pháp nghiên cứu lý thuyết XAFS: tập trung chính  tới mô hình Einstein tương quan phi điều hòa sử dụng thế hiệu dụng Morse.  Cụ thể mối quan hệ giữa cumulant bậc 2 hay hệ số Debye-Waller đối với các  tham số nhiệt động khác của XAFS bao gồm cả phổ và ảnh Fourier của nó.   - Vật liệu nghiên cứu: vật liệu cấu trúc kim cương (Si, Ge), fcc (Cu) và hcp (Zn).  Phạm vi của luận án: - Mô hình Einstein tương quan phi điều hòa theo lý thuyết lượng tử khai triển  đến gần đúng bậc 3 trong đó thế hiệu dụng sử dụng là hàm thế Morse cho vật  liệu cấu trúc kim cương, fcc, hcp và thế Morse/thế Stillinger-Weber cho vật  liệu cấu trúc kim cương (Si, Ge). Nghiên cứu trên toàn dải nhiệt độ của các  vật liệu.  - Nhiệt độ tiến hành nghiên cứu thực nghiệm:   + Vật liệu cấu trúc fcc: 300 K, 400 K, 500 K.    4  + Vật liệu cấu trúc hcp: 300 K, 400 K, 500 K, 600 K.  4. Phương pháp nghiên cứu - Phương pháp nghiên cứu lý thuyết: + Sử dụng mô hình Einstein tương quan phi điều hòa.  + Sử dụng phương pháp thế hiệu dụng.  - Phương pháp nghiên cứu thực nghiệm: Thực hiện các thí nghiệm đo đạc  phổ XAFS tại Viện nghiên cứu bức xạ synchrotron-Thái Lan.  - Lập trình tính số và sử dụng phần mềm phân tích phổ XAFS:  Chương  trình tính số là chương trình Matlab 2014. Phần mềm xử lý phổ là Demeter 9.0.25  (trong đó bao gồm chương trình tính toán FEEF và IFEFFIT).   5. Ý nghĩa khoa học và thực tiễn của luận án Kết  quả  nghiên  cứu  của  luận  án  đã  đưa  ra  một  phương  pháp  mà  có  thể  áp  dụng  được  cả  trong  lý  thuyết  và  thực  nghiệm  đối  với  phổ  XAFS.  Nền  tảng  của  phương pháp là sự nâng cao của mô hình Einstein tương quan phi điều hòa sử dụng  thế  Morse.  Việc  đánh  giá  kết  quả  thu  được  khi  áp  phương  pháp  trên  cho  thấy,  phương pháp đưa ra có thể áp dụng tốt đối với nhiều loại vật liệu có cấu trúc khác  nhau. Ngoài ra, các tham số nhiệt động của phổ XAFS được dẫn giải chỉ thông qua  cumulant bậc hai đo đạc từ thực nghiệm  rất có ý nghĩa trong nghiên cứu cấu trúc  của  vật  liệu  về  mặt  thực  tiễn.  Chỉ  từ  giá  trị  cumulant  bậc  hai  thu  được  từ  thực  nghiệm  ta  có  thể  xem  xét  được  toàn  bộ  các  yếu  tố  nhiệt  động  liên  quan  đến  phổ  XAFS nghĩa là  xem xét được  các  tính chất  nhiệt  động  liên  quan  đến  vật  liệu  như  khoảng cách trung bình giữa các nguyên tử lân cận, hệ số giãn nở nhiệt, sự mất trật  tự của các nguyên tử trong vật liệu dưới sự ảnh hưởng của nhiệt độ,…và các hiệu  ứng phi điều hòa của vật liệu.   6. Những đóng góp mới của luận án - Luận án đã xây dựng được phương pháp mà áp dụng được cả trong lý thuyết  và thực nghiệm đối với phổ XAFS.    5  - Luận án đã xem xét XAFS một cách đầy đủ và toàn diện bao gồm cả thành  phần phi điều hòa của cumulant bậc hai  A2 , hệ số phi điều hòa   (T) cũng như  phổ XAFS và ảnh Fourier của nó.   7. Cấu trúc của luận án Luận  án  được  trình  bày  trong  123  trang.  Ngoài  phần  mở  đầu,  tài  liệu  tham  khảo và phụ lục, luận án chia thành 4 chương trong đó có 5 bảng biểu và 42 hình vẽ  - đồ thị. Số tài liệu tham khảo trong luận án là 96.   Chương 1: Tổng quan về hệ số Debye-Waller phổ XAFS. Chương này tập  chung trình bày lý thuyết về hệ số Debye-Waller của phổ XAFS trong đó trình bày  khái quát về lý thuyết XAFS, khai triển cumulant, một số phương pháp nghiên cứu  đối với hệ số Debye-Waller trong XAFS.   Chương 2: Mô hình Einstein tương quan phi điều hòa trong nghiên cứu các tham số nhiệt động phổ XAFS. Chương này tập trung trình bày tương đối chi  tiết về mô hình Einstein tương quan phi điều hòa, trong đó trình bày về hai thế kinh  nghiệm được sử dụng trong nghiên cứu là thế Morse và thế Stillinger-Weber. Trong  phần này sẽ dẫn giải các biểu thức liên quan tới các tham số của phổ XAFS thông  qua hệ số Debye-Waller đối với vật liệu cấu trúc fcc, hcp và vật liệu cấu trúc kim  cương.   Chương 3: Hệ đo thực nghiệm và áp dụng mô hình Einstein tương quan phi điều hòa trong nghiên cứu các tham số nhiệt động phổ XAFS vật liệu cấu trúc hcp và fcc. Chương này tập trung trình bày về hệ đo phổ XAFS trên hệ thống  bức  xạ  Synchrotron,  trong  đó  trình  bày  khái  quát  về  hệ  bức  xạ  Synchrotron,  tập  trung chính đến hệ đo trực tiếp các vật liệu nghiên cứu. Ngoài ra cũng trình bày sơ  lược về  cấu  trúc phần  mềm FEEF  code sử  dụng  để phân tích  phổ thu  được.  Phần  tiếp theo là các kết quả nghiên cứu áp dụng mô hình Einstein tương quan phi điều  hòa trong tính toán các tham số nhiệt động phổ XAFS vật liệu cấu trúc hcp (Zn) và  fcc (Cu).  Chương 4: Mô hình Einstein tương quan phi điều hòa trong nghiên cứu thành phần pha và biên độ phổ XAFS vật liệu cấu trúc hcp và fcc. Chương này    6  tập trung chính tới phân tích và tính toán các tham số nhiệt động phi điều hòa cũng  như các thành phần pha và biên độ phổ XAFS thông qua hệ số Debye-Waller hay  cumulant bậc hai mà đã đo thực nghiệm được trình bày trong chương 3 đối với vật  liệu cấu trúc hcp (Zn) và fcc (Cu). Dẫn giải các biểu đồ, hình vẽ và những đánh giá  chi tiết. Các kết quả chính của luận án đã được trình bày tại tại Hội nghị Vật lý kỹ  thuật và ứng dụng toàn quốc lần thứ V (2017), Hội nghị khoa học về khoa học tự  nhiên cho các nhà khoa học trẻ, học viên cao học và nghiên cứu sinh các nước Đông  Nam  Á  lần thứ 5  (CASEAN-5)  năm 2017  và  công  bố  03  bài  báo trên  các  tạp  chí  khoa học quốc tế trong danh mục SCI-Q2 là “ The International Journal Vacuum” năm 2014, “The European Physical Journal B” và “Physica B” năm 2017.      7  CHƯƠNG 1. TỔNG QUAN VỀ HỆ SỐ DEBYE-WALLER PHỔ XAFS   1.1 Sơ lược về phổ XAFS Liên quan đến phổ XAFS là liên quan đến tương tác giữa chùm photon (tia  X)  với  nguyên  tử.  Tương  tác  xảy  ra  hai  hiện  tượng:  Hiện  tượng  hấp  thụ  tia  X  và  hiện tượng tán xạ tia X. Hiện tượng tán xạ bên trong nguyên tử bao gồm tán xạ đàn  hồi và tán xạ không đàn hồi. Tán xạ đàn hồi xảy xa khi tia X va chạm đàn hồi với  điện tử lớp lõi nguyên tử và không bị mất năng lượng do đó bước sóng không thay  đổi và được gọi là tán xạ Rayleigh. Tán xạ không đàn hồi xảy xạ khi tia X bị đổi  hướng khi va chạm với các điện tử hóa trị, bước sóng của tia X bị thay đổi và gọi là  tán xạ Compton.  Đối với hiện tượng hấp thụ liên quan đến hiệu ứng quang điện bao gồm một  số trường hợp sau: Chùm tia X va chạm với điện tử, cung cấp năng lượng cho điện  tử. Khi đó điện tử mang theo năng lượng của photon (tia X) gọi là các quang điện  tử. Các quang điện tử mà bị bật ra khỏi nguyên tử bao gồm: Các quang điện tử ra  khỏi  hẳn  bề  mặt  của  vật  rắn  ta  có  phổ  quang  điện  tử  (PES: Photo-Electron Spectroscopy). Trong trường hợp này, khi nguồn kích thích là nguồn tia X thì ta thu  được  phổ  XPS.  Các  quang  điện  tử  vẫn  ở  trong  vật  rắn,  sau  khi  tán  xạ  bởi  các  nguyên tử lân cận, trở lại giao thoa với sóng quang điện tử được phát ra từ nguyên  tử hấp thụ thì ta thu được phần cấu trúc tinh tế của hấp thụ tia X (XAFS). Trường  hợp các điện tử ở lớp lõi nguyên tử nhận được năng lượng của chùm tia X chiếu tới  bật ra khỏi mức năng lượng của chúng, nhảy lên các mức năng lượng cao hơn và tạo  ra các lỗ trống. Các điện tử ở các mức năng lượng cao dịch chuyển xuống mức năng  lượng  thấp  hơn  đồng  thời  phát  ra  photon  tia  X  đặc  trưng,  đó  là  hiện  tượng  phát  huỳnh quang tia X (XRF-X ray Fluorescence). Trường hợp điện tử bị kích thích và  không phát huỳnh quang mà kích thích điện tử ở mức năng lượng cao bị bật ra khỏi  nguyên tử thì điện tử bị bật ra đó gọi là điện tử Auger (Hình 1.1).   Phổ cấu trúc tinh tế hấp thụ tia X liên quan tới cận hấp thụ tia X, cận hấp thụ  được  đo  lần  đầu  tiên  năm  1913  bởi  Maurice  De  Broglie,  anh  trai  của  nhà  cơ  học  lượng tử Louis De Broglie. Năm 1920, Hugo Fricke sử dụng ảnh  chân không của    8  M.Siegbahn lần đầu tiên quan sát được phần cấu trúc tinh tế -“fine structure” thay  đổi phụ thuộc vào năng lượng trong µ(E)[27]. (Hình 1.2).   Điện tử Auger    Quang điện tử      EFermi    B    Huỳnh quang tia X   A    Hình 1.1: Giản đồ quá trình hấp thụ tia X bởi điện tử lỗ trống và quá trình hủy hấp  thụ tia X bởi tạo lỗ trống lớp lõi nguyên tử.[28,67] Trong thực nghiệm, XAFS là phần cấu trúc tinh tế của hệ số hấp thụ tia X  bắt đầu từ trước cận hấp thụ tới phần mở rộng khoảng 1000 eV[29]. Ví dụ đối với cận  hấp thụ K (hình 1.2)    Góc hấp thụ L 2s,2p vùng dẫn   Hệ số hấp thụ       Góc hấp thụ K 1s vùng dẫn     Năng lượng       Hình 1.2: Phổ XAFS tại cận hấp thụ K ở các nhiệt độ khác nhau của phoi Cu. Khi ta chiếu chùm tia X có cường độ I0 đi vào vật liệu có độ dày d thì khi nó  đi  ra  khỏi  lớp  vật  liệu  đó,  cường  độ  chùm  tia  X  bị  suy  giảm  theo  định  luật  của  Lambert-Beer tới giá trị I1=I0.e-µd (hình 1.3). Ở đây, µ là hệ số hấp thụ của vật liệu.    9  Trong hầu hết các dải năng lượng của tia X, hệ số hấp thụ µ là một hàm trơn tru của  năng lượng, nó phụ thuộc vào mật độ , số nguyên tử Z, số khối A và năng lượng  của chùm tia X theo biểu thức:                        Z 4 AE 3                                        MẪU ĐO                                                                   Hình 1.3: Sự hấp thụ tia X của vật liệu.  Trong nghiên cứu thực nghiệm, phổ XAFS có thể đo trong các chế độ sau:  I I1 Chế độ đo truyền qua:   (E)  log( 0 ) . Đo trong chế độ đo huỳnh quang và chế độ  đo phát xạ điện tử Auger:   (E)  If I0 . Trong đó: µ là hệ số hấp thụ. If là cường độ  của vạch huỳnh quang liên quan tới quá trình hấp thụ.  1.1.1. Bản chất vật lý của phổ XAFS[30]:     Hấp thụ tia x  Quang điện tử  1 2  ~ ( E  E0 )   Năng lượng              Mức lõi nguyên tử (lớp 1s)    Xác suất hấp thụ  Nguyên tử hấp thụ  Hình 1.4: Giản đồ mô tả hấp thụ tia X thông qua hiệu ứng quang điện[30].   10  Để  phân  tích  chi  tiết  về  XAFS  ta  bắt  đầu  với  hiệu  ứng  quang  điện  như  đã  trình bày ở trên. Hình 1.4 là giản đồ mô tả sự hấp thụ tia X của điện tử.   Khi các điện tử ở lớp lõi nguyên tử nhận năng lượng từ chùm photon tia X  trở thành các sóng quang điện tử có số sóng k và bước sóng tỷ lệ với  E  E0  lan  truyền trong nguyên tử tuân theo định luật quang điện. Khi đó xác suất hấp thụ ( xác suất hấp thụ tỷ lệ với hệ số hấp thụ) phụ thuộc vào năng lượng được  mô tả trong   hình 1.4.   Sóng  quang  điện  tử  ở  nguyên  tử  hấp  thụ  bị  tán  xạ  bởi  các  điện  tử  ở  các  nguyên  tử lân  cận. Quá  trình  này  có  thể  mô  tả  như giản  đồ hình 1.5. Đường  màu  xanh mô tả quá trình hấp thụ theo hiệu ứng quang điện, đường màu đỏ mô tả sóng  quang điện tán xạ bởi nguyên tử lân cận.    Cấu trúc tinh tế hấp thụ tia   Quang điện tử  Năng lượng     ~ (E  E0 )1/2   Quang điện tử   Tán xạ quang điện tử         Mức lõi nguyên tử  Xác xuất hấp thụ  Nguyên tử hấp thụ  Nguyên tử tán xạ    Hình 1.5: Giản đồ mô tả cấu trúc tinh tế hấp thụ tia X[30]. Sự hấp  thụ  xuất  hiện  ở lớp  lõi nguyên  tử  khi  tồn tại  trạng  thái  lượng  tử  có  năng lượng và mô men lượng tử phù hợp với quang điện tử. Khi đó, các quang điện  tử  tán  xạ  các  nguyên  tử  lận  cận  quay  trở  lại  giao  thoa  với  các  quang  điện  tử  của  nguyên tử hấp thụ dẫn đến sự thay đổi xác xuất hấp thụ hay thay đổi hệ số hấp thụ.  Đây chính là bản chất của phần cấu trúc tinh thế của hấp thụ tia X (XAFS). Đường    11  cong hấp thụ được mô tả bên phải của giản đồ hình 1.5. Đường cong suy giảm này  được gọi là phổ cấu trúc tinh tế của hấp thụ tia X. Thông thường người ta chia phổ  cấu trúc tinh tế của hấp thụ tia X thành hai vùng. Vùng gần cận hấp thụ (khi năng lượng photon < 30 eV) từ cận hấp thụ được gọi là cấu trúc gần cận hấp thụ tia X XANES  (X ray Absorption Near - Edge Structure). Vùng  này  đặc  trưng  cho  các  chuyển dịch của quang điện tử tới vùng trống, do đó rất nhạy cảm với các liên kết  hóa học như đặc trưng cho các trạng thái oxi hóa khác nhau của nguyên tử hấp thụ.  Nó bị ảnh hưởng mạnh bởi các hiệu ứng đa tán xạ, do vậy nó có thể ứng dụng để  phân biệt các pha khác nhau của tinh thể. Tuy nhiên, các tính toán lý thuyết đối với  XANES  rất  phức  tạp  và  các  mô  phỏng  chính  xác  cho  đến  nay  vẫn  còn  hạn  chế.  Vùng thứ hai là vùng có năng lượng > 30 eV được gọi là cấu trúc tinh thế hấp thụ  tia X mở rộng EXAFS (Extended XAFS)[27,28,30]. Trong vùng này, các quang điện tử  được kích thích lên trạng thái dẫn hay trạng thái tự do. Vì thế, nó không phụ thuộc  vào liên kết hóa học và phụ thuộc vào sự sắp xếp nguyên tử xung quanh nguyên tử  hấp  thụ  bao  gồm:  số  bậc tự  do, khoảng  cách  tương tác,  rối loạn  nhiệt  và  cấu  trúc  xung quanh nguyên tử. Nó liên quan tới trận tự gần và được ứng dụng rộng rãi cho  cả vật  liệu  định hình  và  vô định  hình.  Do  đó, nó  trở  thành công cụ  hữu  ích trong  nghiên  cứu  cấu  trúc  vật  liệu.  Trong  nghiên  cứu  này,  chúng  tôi  sử dụng  thuật  ngữ  chung là XAFS.  1.1.2. Phương trình phổ XAFS Từ những phân tích ở mục 1.1, ta thấy hấp thụ tia X là sự chuyển dịch giữa  hai trạng thái lượng tử. Trạng thái ban đầu (photon tia X, điện tử lỗ trống và không có quang điện tử)  tới  trạng  thái  cuối  (không có photon tia X, điện tử lỗ trống và quang điện tử). Khi đó theo định luật vàng của Fermi, hệ số hấp thụ sẽ có dạng:   (E)  i  f 2                                              (1.1)  Trong đó:  i  là trạng thái thái ban đầu;  f  là trạng thái cuối và H là dạng  tương tác của hệ.  Vì  f  liên quan đến tán xạ của nguyên tử lân cận, do đó ta có thể phân chia  f   thành  hai  thành  phần: f 0 là  thành  phần  chưa  có  sự  tham  gia  của  tán  xạ  bởi   
- Xem thêm -

Tài liệu liên quan